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【出展報告】OPIE 2019 に出展しました 作成日:2019年5月15日

OPIE 2019に出展しました。

   

2019年 4/24~4/26にパシフィコ横浜にて開催されたOPIE2019に出展しました。

ご来場いただいた皆様、誠にありがとうございました。

 

社長のいち押しをご紹介いたします。

 ☆光ファイバ断線検出器 OCCR

 OCTを用いた反射測定器であり、光デバイス内のファイバ断線を検出します。

 現在、仕様の異なる4機種を販売しております。詳しくはこちらをクリックしてください。

 

☆信頼性試験のご紹介 ダスト試験を展示

 Telcordia, JIS, MIL規格の試験を自社設備を用いて行います。新社屋になり、自社設備もますます充実。

 ものづくりにおいて欠かすことのできない信頼性試験、ご興味をもたれた方は是非お問い合わせください。

 

7月17日(水)~19日(金) 

東京ビッグサイト青海展示棟で開催されます光通信技術展FOEへ出展します。

詳細については近いうちに弊社blogでご案内いたします。皆様のご来場お待ちしております。 

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