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【報告】OPIE 2018 に出展しました。 作成日:2018年5月1日

OPIE 2018に出展しました。

  

 

2018年 4/25~27にパシフィコ横浜にて開催されたOPIE2018に出展しました。


皆様のご来場、誠にありがとうございました。

反響の大きかった展示をご紹介させていただきます。

・TD-OCT方式の高精度反射測定器OCCRシリーズ
 既に販売している、光ファイバ断線検出の他にも
 TD-OCT方式の高精度反射測定器として更なる応用について展示いたしました。

・光製品の信頼信試験の受託
 創業当初より信頼性試験の実績がある当社では
 試験したいサンプルをお送りいただくだけで、
 試験の実施からレポートの作成まで致します。
 試験前後だけでなく、試験中の光をモニターする試験も可能です。
 自社設備での試験の為、低コスト&短納期を実現できます。


弊社では今後とも、光製品及びサービスの充実に努めて参ります。

国内外のお客様の光のモノづくりやサービスに安心を届けることでお手伝いさせていただきます。

今後ともオプトゲートをよろしくお願いいたします。

 

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